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"Smartphone, ich zähl' auf Dich": Wie Entwickler Chips auf Zuverlässigkeit testen

Samstag, 28. Juni
Wissen um 11
"Smartphone, ich zähl' auf Dich": Wie Entwickler Chips auf Zuverlässigkeit testen
Prof. Dr. Rolf Drechsler bei Wissen um 11

Am Samstag, den 28. Juni um 11 Uhr wird Prof. Dr. Rolf Drechsler den Vortrag halten: "Smartphone, ich zähl' auf Dich": Wie Entwickler Chips auf Zuverlässigkeit testen. Drechsler ist seit 2001 Professor für Informatik an der Universität Bremen und vertritt das Arbeitsgebiet Rechnerarchitektur. Seit 2011 ist er darüber hinaus Direktor im Deutschen Forschungszentrum für Künstliche Intelligenz (DFKI) in Bremen und leitet dort den Forschungsbereich Cyber-Physical Systems.

Vortrag
Durch die fortschreitende technologische Entwicklung werden viele Tätigkeiten unseres täglichen Lebens durch elektronische Systeme erleichtert. Ihr Einsatz schafft aber auch Abhängigkeiten, denn an vielen Stellen muss sich der Benutzer "blind" auf diese Systeme verlassen (können). Für Entwickler steht deshalb die Frage der Sicherheit, Qualität und Robustheit der Systeme im Vordergrund: Es muss sichergestellt werden, dass sie auf Dauer korrekt funktionieren.

Der Vortrag gibt einen Überblick zu existierenden Verifikations- und Testverfahren, zeigt Alltagsbeispiele auf und illustriert, dass selbst komplexe Systeme, die aus mehreren 100 Millionen Komponenten bestehen, erfolgreich getestet werden können. Offene Probleme und Forschungsfragen werden ebenfalls zur Diskussion gestellt.

Am Samstag, den 5. Juli wird Dr. Heidrun Hamersky den Vortrag halten: "Ivan Kyncl - Rebellion mit der Kamera".

"Wissen um 11", die Wissenschaftsmatinee in Bremen, in der spannende und aktuelle Themen aus der Wissenschaft jeden Samstag um 11 Uhr in dreißig Minuten vorgestellt
werden.
Der Eintritt ist frei.

Wir bitten um Verständnis dafür, dass das Platzangebot im Olbers-Saal aus feuerschutzrechtlichen Gründen auf 195 Personen begrenzt ist.

"Smartphone, ich zähl' auf Dich": Wie Entwickler Chips auf Zuverlässigkeit testen